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代理商 -
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2024-10-25 -
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產品描述
HR-SPM:高分辨原子力顯微鏡使用調頻模式空氣和液體中的噪音降低到傳統模式的二十分之一在空氣和液體環境中也能達到超高真空原子力顯微鏡的分辨率現有的掃描探針顯微鏡(scanningprobemicroscopes)和原子力顯微鏡(atomicforcemicroscopes)通常使用調幅模式(amplitudemodulation)
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HR-SPM:高分辨原子力顯微鏡使用調頻模式空氣和液體中的噪音降低到傳統模式的二十分之一在空氣和液體環境中也能達到超高真空原子力顯微鏡的分辨率現有的掃描探針顯微鏡(scanningprobemicroscopes)和原子力顯微鏡(atomicforcemicroscopes)通常使用調幅模式(amplitudemodulation)
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780產品描述
探知未來原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱